Microscope électronique à balayage FESEM | SEM4000X

Stable, polyvalent, flexible et efficace

Le CIQTEK SEM4000X est un Microscope Électronique à Balayage à Émission de Champ (FE-SEM) conçu pour offrir stabilité, polyvalence et efficacité dans l’imagerie haute résolution de tout type d’échantillon.

Bénéfices clés :

Imagerie Basse Tension Performante : Atteint une résolution de $1,8 \text{ nm}$ à $1 \text{ kV}$ , une performance qui peut être améliorée davantage via l’option de mode décélération ultra-faible.
Système Multidétecteur Avancé : Il combine un détecteur en colonne (UD) pour la haute résolution SE/BSE et un détecteur de chambre (LD) à haute sensibilité, idéal pour des images stéréoscopiques d’excellente qualité.
Capture d’Image Rapide et Automatisée : Son interface conviviale intègre des fonctions d’automatisation complètes (mise au point, alignement, contraste automatiques), garantissant une capture rapide et reproductible d’images ultra-haute résolution.