Microscopes
électroniques à balayage

INGENIUM : Votre Partenaire de Confiance pour l'Imagerie Ultra-Résolution et l'Analyse Matériaux

Le Microscope Électronique à Balayage (MEB) est l'outil indispensable pour l'analyse des surfaces et des matériaux à l'échelle nanométrique. INGENIUM est fier d'être l'importateur exclusif des MEB CIQTEK en Algérie, proposant une gamme complète allant du MEB à filament de tungstène simple (SEM2100) aux modèles de pointe à émission de champ (FESEM 5000X/Pro). Nos solutions MEB CIQTEK offrent une résolution exceptionnelle et une polyvalence analytique (EDS, EBSD), cruciales pour la recherche avancée sur les semi-conducteurs, les nanomatériaux et le contrôle qualité industriel. Découvrez la précision, la stabilité et l'efficacité de la technologie CIQTEK, exclusivement disponible chez INGENIUM.

Filament de tungstène SEM | SEM2100
Le CIQTEK SEM2100 est un Microscope Électronique à Balayage (MEB) à filament de tungstène compact, conçu pour une utilisation intuitive et rapide sans sacrifier la performance.

Bénéfices clés :
- Simplicité Opérationnelle : Son interface utilisateur respecte les normes et habitudes du secteur, facilitant l’adoption immédiate par les utilisateurs.
- Fonctionnalités Complètes : Malgré sa conception minimaliste, il intègre des fonctions automatisées complètes (mise au point, contraste, etc.), des outils de mesure et d’annotation, et des options de post-traitement d’images avancées.
- Efficacité et Compacité : Le SEM2100 incarne l’idée de « simplicité sans compromis sur les fonctionnalités », idéal pour les environnements où l’espace et la facilité d’accès sont essentiels.
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Microscope électronique à filament de tungstène | SEM3200
Le CIQTEK SEM3200 est un Microscope Électronique à Balayage (MEB) à filament de tungstène conçu pour être un instrument polyvalent et évolutif doté de capacités globales exceptionnelles.

Bénéfices clés :
- Haute Performance Optimisée : Sa structure unique à double anode améliore le rapport signal/bruit et garantit une haute résolution même sous de faibles tensions d’excitation, offrant des images claires et précises.
- Polyvalence Analytique : Il est compatible avec une large gamme d’accessoires optionnels (comme l’EDS/EDX), ce qui en fait une plateforme d’analyse hautement évolutive capable de s’adapter à divers besoins de recherche et de contrôle qualité.
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Filament de tungstène SEM | SEM3300
Le CIQTEK SEM3300 est un Microscope Électronique à Balayage (MEB) à filament de tungstène qui dépasse les limites de résolution historiques de sa catégorie.

Grâce à l’intégration de technologies avancées comme l’optique électronique « Super-Tunnel » et des objectifs composés électrostatiques et électromagnétiques, le SEM3300 offre des performances inédites :

Bénéfices clés :
- Accessibilité à la Basse Tension : Il permet d’effectuer des analyses basse tension avec une ultra-haute résolution, une capacité autrefois réservée aux microscopes à émission de champ (FE-SEM) beaucoup plus coûteux.
- Haute Performance à Faible Coût : Il rend l’imagerie avancée et l’analyse d’échantillons sensibles plus accessibles, constituant une alternative fiable pour la R&D et le contrôle qualité sans compromettre la précision.
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Microscope électronique à balayage FESEM | SEM4000X
Stable, polyvalent, flexible et efficace

Le CIQTEK SEM4000X est un Microscope Électronique à Balayage à Émission de Champ (FE-SEM) conçu pour offrir stabilité, polyvalence et efficacité dans l’imagerie haute résolution de tout type d’échantillon.

Bénéfices clés :
- Imagerie Basse Tension Performante : Atteint une résolution de $1,8 \text{ nm}$ à $1 \text{ kV}$ , une performance qui peut être améliorée davantage via l’option de mode décélération ultra-faible.
- Système Multidétecteur Avancé : Il combine un détecteur en colonne (UD) pour la haute résolution SE/BSE et un détecteur de chambre (LD) à haute sensibilité, idéal pour des images stéréoscopiques d’excellente qualité.
- Capture d’Image Rapide et Automatisée : Son interface conviviale intègre des fonctions d’automatisation complètes (mise au point, alignement, contraste automatiques), garantissant une capture rapide et reproductible d’images ultra-haute résolution.
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Microscope électronique à balayage FESEM | SEM4000Pro
Analytique Schottky Microscope électronique à balayage à émission de champ (FESEM)

Le CIQTEK SEM4000Pro est un Microscope Électronique à Balayage (MEB-FE) conçu comme une plateforme analytique robuste et fiable.

Équipé d’un canon à électrons Schottky de haute luminosité et longue durée de vie, et d’une conception de lentille électromagnétique à trois étages, il offre des performances optimisées pour l’analyse multi-modalités.

Bénéfices clés :
- Plateforme Analytique Complète : Idéal pour les applications avancées telles que l’EDS/EDX, l’EBSD et le WDS, garantissant des résultats précis et stables.
- Analyse d’Échantillons Difficiles : Son mode vide faible et ses détecteurs dédiés (électrons secondaires et rétrodiffusés rétractable) facilitent l’observation des échantillons peu conducteurs ou non conducteurs sans préparation complexe.
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Microscope électronique à balayage FESEM | SEM5000Pro
Haute résolution sous faible excitation

Le CIQTEK SEM5000Pro est un Microscope Électronique à Balayage à Émission de Champ (FE-SEM) à source Schottky, optimisé pour les applications sensibles et de haute précision.

Grâce à la technologie optique électronique « Super-Tunnel » et une conception de lentille composite, le SEM5000Pro excelle en haute résolution à basse tension ( $1,1 \text{ nm}$ à $1 \text{ kV}$ ).

Bénéfices clés :
- Analyse d’échantillons sensibles : Permet l’observation directe d’échantillons non conducteurs ou semi-conducteurs tout en réduisant efficacement les dommages causés par l’irradiation.
- Précision et clarté : La réduction des aberrations de l’objectif et de l’effet de charge spatiale garantit une qualité d’imagerie et une fiabilité des données essentielles pour la R&D et le contrôle qualité.
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Microscope électronique à balayage FESEM ultra-haute résolution | SEM5000X

Microscopie électronique à balayage à émission de champ à ultra-haute résolution (FESEM)

Le CIQTEK SEM5000X est l’outil indispensable pour l’analyse des matériaux nanostructuraux et la fabrication de semi-conducteurs de pointe.

Grâce à une optique optimisée réduisant les aberrations de $30\%$ , il garantit une résolution ultra-élevée ( $0,6 \text{ nm}$ à $15 \text{ kV}$ ) et une stabilité critique. Il vous assure la précision et le contrôle qualité nécessaires pour les puces de nouvelle génération et la recherche industrielle avancée.

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Microscope électronique à balayage haute vitesse | HEM6000
Grande vitesse Émission de champ entièrement automatisée Microscope électronique à balayage Poste de travail

Le CIQTEK HEM6000 est un microscope électronique conçu pour une vitesse et une efficacité sans précédent dans l’imagerie nanométrique.

Il surpasse la concurrence en étant cinq fois plus rapide que les microscopes électroniques classiques (FESEM), permettant d’analyser de grandes surfaces en haute résolution de manière plus intelligente.

Cette performance est rendue possible par l’intégration de technologies optiques de pointe, telles que :
- Un canon à électrons à courant large et haute luminosité.
- Un système de déviation du faisceau ultra-rapide.
- Un objectif combinant les champs électromagnétiques et électrostatiques.
En bref, le HEM6000 garantit une acquisition d’image ultra-rapide tout en conservant une résolution nanométrique parfaite.
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Microscope électronique à balayage FIB-SEM | DB550
Géorgie ⁺Microscope électronique à balayage à émission de champ à faisceau d’ions focalisés

Le Microscope Électronique à Balayage (MEB) avec Faisceau d’Ions Focalisés (FIB-SEM) CIQTEK DB550 est un outil ultra-performant, capable d’analyser et de manipuler des matériaux à l’échelle nanométrique.

Il combine deux technologies :
1. Un microscope électronique qui utilise une optique avancée (« super tunnel » et objectif amagnétique) pour obtenir des images d’une très haute résolution, même à basse tension.
2. Un faisceau d’ions focalisés (utilisant des ions de Gallium $\text{Ga}^+$ ) qui sert à la nano-préparation et à la modification précise des échantillons.
En bref, le DB550 est une station de travail complète et facile à utiliser, idéale pour l’analyse et la fabrication au niveau nanométrique. Il inclut même des accessoires intégrés comme un nanomanipulateur et un système d’injection de gaz.
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