Microscope électronique à balayage FESEM ultra-haute résolution | SEM5000X

Microscopie électronique à balayage à émission de champ à ultra-haute résolution (FESEM)

Le CIQTEK SEM5000X est l’outil indispensable pour l’analyse des matériaux nanostructuraux et la fabrication de semi-conducteurs de pointe.

Grâce à une optique optimisée réduisant les aberrations de $30\%$ , il garantit une résolution ultra-élevée ( $0,6 \text{ nm}$ à $15 \text{ kV}$ ) et une stabilité critique. Il vous assure la précision et le contrôle qualité nécessaires pour les puces de nouvelle génération et la recherche industrielle avancée.