Microscope électronique à balayage FIB-SEM | DB550
Géorgie + Microscope électronique à balayage à émission de champ à faisceau d’ions focalisés
Le Microscope Électronique à Balayage (MEB) avec Faisceau d’Ions Focalisés (FIB-SEM) CIQTEK DB550 est un outil ultra-performant, capable d’analyser et de manipuler des matériaux à l’échelle nanométrique.
Il combine deux technologies :
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Un microscope électronique qui utilise une optique avancée (« super tunnel » et objectif amagnétique) pour obtenir des images d’une très haute résolution, même à basse tension.
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Un faisceau d’ions focalisés (utilisant des ions de Gallium $\text{Ga}^+$) qui sert à la nano-préparation et à la modification précise des échantillons.
En bref, le DB550 est une station de travail complète et facile à utiliser, idéale pour l’analyse et la fabrication au niveau nanométrique. Il inclut même des accessoires intégrés comme un nanomanipulateur et un système d’injection de gaz.
