Le CIQTEK SEM3300 est un Microscope Électronique à Balayage (MEB) à filament de tungstène qui dépasse les limites de résolution historiques de sa catégorie.
Grâce à l’intégration de technologies avancées comme l’optique électronique « Super-Tunnel » et des objectifs composés électrostatiques et électromagnétiques, le SEM3300 offre des performances inédites :
Bénéfices clés :
Accessibilité à la Basse Tension : Il permet d’effectuer des analyses basse tension avec une ultra-haute résolution, une capacité autrefois réservée aux microscopes à émission de champ (FE-SEM) beaucoup plus coûteux.
Haute Performance à Faible Coût : Il rend l’imagerie avancée et l’analyse d’échantillons sensibles plus accessibles, constituant une alternative fiable pour la R&D et le contrôle qualité sans compromettre la précision.
Analytique Schottky Microscope électronique à balayage à émission de champ (FESEM)
Le CIQTEK SEM4000Pro est un Microscope Électronique à Balayage (MEB-FE) conçu comme une plateforme analytique robuste et fiable.
Équipé d’un canon à électrons Schottky de haute luminosité et longue durée de vie, et d’une conception de lentille électromagnétique à trois étages, il offre des performances optimisées pour l’analyse multi-modalités.
Bénéfices clés :
Plateforme Analytique Complète : Idéal pour les applications avancées telles que l’EDS/EDX, l’EBSD et le WDS, garantissant des résultats précis et stables.
Analyse d’Échantillons Difficiles : Son mode vide faible et ses détecteurs dédiés (électrons secondaires et rétrodiffusés rétractable) facilitent l’observation des échantillons peu conducteurs ou non conducteurs sans préparation complexe.
Le CIQTEK SEM4000X est un Microscope Électronique à Balayage à Émission de Champ (FE-SEM) conçu pour offrir stabilité, polyvalence et efficacité dans l’imagerie haute résolution de tout type d’échantillon.
Bénéfices clés :
Imagerie Basse Tension Performante : Atteint une résolution de $1,8 \text{ nm}$ à $1 \text{ kV}$, une performance qui peut être améliorée davantage via l’option de mode décélération ultra-faible.
Système Multidétecteur Avancé : Il combine un détecteur en colonne (UD) pour la haute résolution SE/BSE et un détecteur de chambre (LD) à haute sensibilité, idéal pour des images stéréoscopiques d’excellente qualité.
Capture d’Image Rapide et Automatisée : Son interface conviviale intègre des fonctions d’automatisation complètes (mise au point, alignement, contraste automatiques), garantissant une capture rapide et reproductible d’images ultra-haute résolution.
Le CIQTEK SEM5000Pro est un Microscope Électronique à Balayage à Émission de Champ (FE-SEM) à source Schottky, optimisé pour les applications sensibles et de haute précision.
Grâce à la technologie optique électronique « Super-Tunnel » et une conception de lentille composite, le SEM5000Pro excelle en haute résolution à basse tension ($1,1 \text{ nm}$ à $1 \text{ kV}$).
Bénéfices clés :
Analyse d’échantillons sensibles : Permet l’observation directe d’échantillons non conducteurs ou semi-conducteurs tout en réduisant efficacement les dommages causés par l’irradiation.
Précision et clarté : La réduction des aberrations de l’objectif et de l’effet de charge spatiale garantit une qualité d’imagerie et une fiabilité des données essentielles pour la R&D et le contrôle qualité.
Microscopie électronique à balayage à émission de champ à ultra-haute résolution (FESEM)
Le CIQTEK SEM5000X est l’outil indispensable pour l’analyse des matériaux nanostructuraux et la fabrication de semi-conducteurs de pointe.
Grâce à une optique optimisée réduisant les aberrations de $30\%$, il garantit une résolution ultra-élevée ($0,6 \text{ nm}$ à $15 \text{ kV}$) et une stabilité critique. Il vous assure la précision et le contrôle qualité nécessaires pour les puces de nouvelle génération et la recherche industrielle avancée.
Géorgie + Microscope électronique à balayage à émission de champ à faisceau d’ions focalisés
Le Microscope Électronique à Balayage (MEB) avec Faisceau d’Ions Focalisés (FIB-SEM) CIQTEK DB550 est un outil ultra-performant, capable d’analyser et de manipuler des matériaux à l’échelle nanométrique.
Il combine deux technologies :
Un microscope électronique qui utilise une optique avancée (« super tunnel » et objectif amagnétique) pour obtenir des images d’une très haute résolution, même à basse tension.
Un faisceau d’ions focalisés (utilisant des ions de Gallium $\text{Ga}^+$) qui sert à la nano-préparation et à la modification précise des échantillons.
En bref, le DB550 est une station de travail complète et facile à utiliser, idéale pour l’analyse et la fabrication au niveau nanométrique. Il inclut même des accessoires intégrés comme un nanomanipulateur et un système d’injection de gaz.
Grande vitesse Émission de champ entièrement automatisée Microscope électronique à balayage Poste de travail
Le CIQTEK HEM6000 est un microscope électronique conçu pour une vitesse et une efficacité sans précédent dans l’imagerie nanométrique.
Il surpasse la concurrence en étant cinq fois plus rapide que les microscopes électroniques classiques (FESEM), permettant d’analyser de grandes surfaces en haute résolution de manière plus intelligente.
Cette performance est rendue possible par l’intégration de technologies optiques de pointe, telles que :
Un canon à électrons à courant large et haute luminosité.
Un système de déviation du faisceau ultra-rapide.
Un objectif combinant les champs électromagnétiques et électrostatiques.
En bref, le HEM6000 garantit une acquisition d’image ultra-rapide tout en conservant une résolution nanométrique parfaite.
Le CIQTEK SEM3200 est un Microscope Électronique à Balayage (MEB) à filament de tungstène conçu pour être un instrument polyvalent et évolutif doté de capacités globales exceptionnelles.
Bénéfices clés :
Haute Performance Optimisée : Sa structure unique à double anode améliore le rapport signal/bruit et garantit une haute résolution même sous de faibles tensions d’excitation, offrant des images claires et précises.
Polyvalence Analytique : Il est compatible avec une large gamme d’accessoires optionnels (comme l’EDS/EDX), ce qui en fait une plateforme d’analyse hautement évolutive capable de s’adapter à divers besoins de recherche et de contrôle qualité.
TEM 120 kV à Émission de Champ : Efficacité et Évolutivité
Ce Microscope Électronique à Transmission (TEM) à émission de champ $120 \text{ kV}$ est une plateforme d’imagerie et d’analyse haute résolution conçue pour optimiser le travail en laboratoire.
Bénéfices clés :
Efficacité Opérationnelle : Le logiciel intègre des processus hautement automatisés et une surveillance en temps réel, garantissant une interaction et un flux de travail rapides et performants.
Environnement Optimisé : La conception en espaces de travail divisés améliore le confort de l’utilisateur tout en réduisant les interférences environnementales, assurant la stabilité des mesures.
Haute Extensibilité : Le système dispose de nombreuses interfaces réservées pour une mise à niveau facile, permettant d’adapter l’instrument aux futures exigences applicatives et aux configurations supérieures.
